Ukrainian
Summary:У навчальному посібнику викладено основи сучасних методів діагностики поверхні твердого тіла, розглянуто метричні та фрактальні параметри мікрогеометрії поверхні, основи фізики поверхневих явищ і процесів, обговорено класифікацію методів дослідження поверхні, їх фізичні основи, можливості та способи реалізації. Більш детально розглянуто методи скануючої зондової мікроскопії,[⇒] зокрема атомно-силової та тунельної мікроскопії, методи повного зовнішнього відбивання та дифракції Х-променів. Reading audience:Для студентів фізико-математичних та інженерних спеціальностей вищих навчальних закладів.
Russian
Summary:В учебном пособии изложены основы современных методов диагностики поверхности твердого тела, рассмотрены метрические и фрактальные параметры микрогеометрии поверхности, основы физики поверхностных явлений и процессов, проведено классификацию методов исследования поверхности, их физические основы, возможности и способы реализации. Более детально рассмотрены методы сканирующей[⇒] зондовой микроскопии, в частности атомно-силовой и туннельной микроскопии, методы полного внешнего отражения и дифракции рентгеновских лучей. Reading audience:Для студентов физико-математических и инженерных специальностей высших учебных заведений.