Ukrainian
Summary:В якості основного методу розрахунку надійності елементів і пристроїв обчислювальної техніки та систем керування приймається ймовірносно-фізичний метод (ВФ-метод), заснований на використанні ймовірнісно-фізичної моделі надійності — дифузійного немонотонного розподілу відмов (DN-розподілу). Метод розглядає безперервну (континуальну) безліч станів елементів з безперервним часом. На[⇒] відміну від методів розрахунку, заснованих на використанні строго ймовірнісних моделей надійності (експоненційного розподілу, розподілу Вейбулла), даний підхід є більш адекватним поданням поведінки елементів і пристроїв з фізичної точки зору. В роботі запропоновані процедури коригування вихідних даних про надійність елементів (інтенсивностей відмов, середніх напрацювань до відмови), що дозволяють використовувати їх в рамках ВФ-методу. У монографії розроблені інженерні методи розрахунку надійності елементів і пристроїв (напівпровідникових приладів, інтегральних мікросхем, резисторів, конденсаторів і пристроїв) Reading audience:Монографія розрахована на широке коло фахівців, що працюють в області проектування і виробництва електронних елементів, пристроїв і систем, і може бути корисна студентам і аспірантам, які навчаються за спеціальністю «Елементи і пристрої засобів обчислювальної техніки і автоматизації».
Russian
Summary:В качестве основного метода расчета надежности элементов и устройств вычислительной техники и систем управления принимается вероятностно-физический метод (ВФ-метод), основанный на использовании вероятностно-физической модели надежности — диффузионного немонотонного распределения отказов (DN-распределения). Метод рассматривает непрерывное (континуальное) множество состояний[⇒] элементов с непрерывным временем. В отличие от методов расчета, основанных на использовании строго вероятностных моделей надежности (экспоненциального распределения, распределения Вейбулла), данный подход является более адекватным представлением поведения элементов и устройств с физической точки зрения. В работе предложены процедуры корректировки исходных данных о надежности элементов (интенсивностей отказов, средних наработок до отказа), позволяющие использовать их в рамках ВФ-метода. В монографии разработаны инженерные методы расчета надежности элементов и устройств (полупроводниковых приборов, интегральных микросх Reading audience:Монография рассчитана на широкий круг специалистов, работающих в области проектирования и производства электронных элементов, устройств и систем, и может быть полезна студентам и аспирантам, обучающимся по специальности «Элементы и устройства средств вычислительной техники и автоматизации».
English
Summary:As the main method for calculating the reliability of elements and devices of computer technology and control systems, the probabilistic-physical method (WF-method) is adopted, based on the use of a probabilistic-physical reliability model - a diffusion non-monotonic distribution of failures (DN distribution). The method considers a continuous (continuous) set of states of[⇒] elements with continuous time. In contrast to the calculation methods based on the use of strictly probabilistic reliability models (exponential distribution, Weibull distribution), this approach is a more adequate representation of the behavior of elements and devices from a physical point of view. The paper proposes procedures for correcting the initial data on the reliability of elements (failure rates, mean operating time to failure), allowing them to be used within the WF method. The monograph developed engineering methods for calculating the reliability of elements and devices (semiconductor devices, integrated Reading audience:The monograph is intended for a wide range of specialists working in the field of design and production of electronic elements, devices and systems, and may be useful to students and postgraduates studying in the specialty «Elements and devices of computer technology and automation».